在小孔徑小公差的檢測中（主要是H7級公差及以下）的檢測，常見的方式是采用塞規(guī)檢測，但由于這類塞規(guī)由于設計公差范圍較小，采用塞規(guī)檢測方法，會存在以下弊端：

1、塞規(guī)制作成本高

根據(jù)工具車間和同行業(yè)的數(shù)據(jù)分析，只有塞規(guī)的公差大于0.003mm時，塞規(guī)才能保證95%以上的產品合格率；當小于0.0015mm時，只能保證33%的合格率；當小于0.0025mm且大于0.0015mm時，只能保證67%的合格率。

2、使用成本高

通端的下差和磨損極限的差值即為磨損量，磨損量越小，塞規(guī)的使用壽命越短。

3、計量困難

根據(jù)計量室反饋，由于設計公差范圍太小，約在0.014mm左右，加工難度大，無法讀取準確的數(shù)值，計量檢測無法保證，驗收合格率低。

4、產品加工困難

因為塞規(guī)吃掉了產品要求公差的一部分公差，導致產品加工時壓縮到產品圖要求尺寸的中差，因而對加工的要求也相應提高了。